[发明专利]多通道接线检测方法和装置、多通道测试系统及存储介质在审
| 申请号： | 202310511332.5 | 申请日： | 2023-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN116699469A | 公开（公告）日： | 2023-09-05 |
| 发明（设计）人： | 王业文;刘子敏;杨应俊 | 申请（专利权）人： | 矽电半导体设备（深圳）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/55 | 分类号： | G01R31/55;G01R31/67;G01R1/04 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 洪铭福 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供一种多通道接线检测方法和装置、多通道测试系统及存储介质，属于电子测试技术领域。该方法包括：对待测器件进行预测试，以使多通道测试系统处于预备状态；根据预备状态划定测试隔离区域；将近邻通道移动至测试隔离区域内部并对待测器件进行接线测试，得到与近邻通道对应的待测器件的接线检测结果；其中，近邻通道为测试通道中与测试隔离区域距离最短的通道；重复上一步骤直至测试通道均移动至测试隔离区域内部，得到待测器件的接线检测结果。本申请旨在对多通道测试系统的测试通道自动进行接线检测，无需人工进行拆接线且不受人为因素影响，从而提高检测效率和检测准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 通道 接线 检测 方法 装置 测试 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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