[发明专利]高速冲击下光电元件过载测试装置及其损伤评估方法在审
| 申请号： | 202310598085.7 | 申请日： | 2023-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN116499682A | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 刘启明;杨伟龙;李涛;史宝军;樊铮炎 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01M7/08 | 分类号： | G01M7/08;G01N21/88 |
| 代理公司： | 天津市鼎拓知识产权代理有限公司 12233 | 代理人： | 朱丽丽 |
| 地址： | 300401 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请提出一种高速冲击下光电元件过载测试装置及其损伤评估方法，其中测试装置包括具有第一外壳本体的测试本体，第一外壳本体内具有分隔组件以及设于分隔组件两侧的光电元器件和第一载荷测量组件；还包括与第一载荷测量组件电连接的载荷获取组件；使用时，通过高速冲击力作用于第一外壳本体上，再通过分隔组件将冲击力传导至光电元器件和第一载荷测量组件上，通过载荷获取组件获得第一载荷测量组件测量的作用在光电元器件上的载荷大小；冲击后，将光电元器件取出并在损伤检测组件上检测得到损伤情况，和根据第一载荷测量组件得到作用到光电元器件上的载荷大小，得到载荷和损伤的对应关系，对制导系统光电元器件的选型和实施抗过载设计提供参考。 | ||
| 搜索关键词： | 高速 冲击 光电 元件 过载 测试 装置 及其 损伤 评估 方法 | ||
【主权项】：
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