[发明专利]一种MCU FLASH与Program Counter故障复合诊断方法及系统在审
| 申请号： | 202310712361.8 | 申请日： | 2023-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN116932259A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 曾华鹏;王鹏;李艳;李益敏;欧阳建东 | 申请（专利权）人： | 天津中德应用技术大学 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07;G06F11/10 |
| 代理公司： | 天津玺名律师事务所 12263 | 代理人： | 杨琳 |
| 地址： | 300000 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供的一种MCU FLASH与Program Counter故障复合诊断方法及系统，属于微电子故障诊断领域，该方法包括：将编译后的关键功能部分从固件中独立出来，划分为part1、part2两部分，并对其强制指定FLASH存储起始地址，依次跳到part1、part2所在的FLASH区域进行故障检测；FLASH区域检测无故障，则Program Counter指向该区域的起始地址执行相应关键功能函数，并通过判断其返回值是否为该区域的起始地址，检测Program Counter是否能够正常工作。本申请能够在保证FLASH检测有效性的前提下，大大缩短检测时间，避免由于检测时间过长引发的安全问题；同时将关键功能所在的FLASH起始地址与Program Counter检测结合起来，在执行关键功能的同时进行Program Counter故障检测，避免额外设置检测项带来的FLASH占用及时间花销，使得检测更加直接、有效。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mcu flash program counter 故障 复合 诊断 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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