[发明专利]一种高硬度DLC真空镀膜设备及工艺在审

专利信息
申请号: 202310794567.X 申请日: 2023-06-30
公开(公告)号: CN116926467A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 蒋贵霞 申请(专利权)人: 昆山英利悦电子有限公司
主分类号: C23C14/06 分类号: C23C14/06;C23C14/32
代理公司: 合肥上博知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34188 代理人: 张果果
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供了一种高硬度DLC真空镀膜设备及工艺,包括炉体,所述炉体的内部设有圆柱弧靶,所述圆柱弧靶电性连接有柱弧电源,所述圆柱弧靶的两侧设有圆柱阴极靶,所述圆柱阴极靶电性连接有中频电源,所述炉体的内部设有转架,所述转架电性连接有偏压电源,所述炉体的两侧内壁对称设有阳极层离子源,所述阳极层离子源电性连接有离子源电源。本方案使用阳极层离子源,通过闭合的磁阱、阴极和阳极之间的高电压以及正确的工作压力,气流通过磁阱从而产生等离子体射流,提高气体的离化率,在DLC镀膜工艺中,能够显著增加碳氢离子的离子率,提高了碳氢离子的密度,提高镀膜涂层的致密性及结合力。
搜索关键词: 一种 硬度 dlc 真空镀膜 设备 工艺
【主权项】:
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