[发明专利]一种门级时序电路输入向量的可靠性评估方法在审
| 申请号： | 202310836080.3 | 申请日： | 2023-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN116933700A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 江建慧;施展辉;张颖 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33;G06F17/16;G06F119/02 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 翁惠瑜 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种门级时序电路输入向量的可靠性评估方法，包括以下步骤：S1、构建电路完整性链表；S2、判断待评估的输入向量是否是单输入向量，若是，则执行步骤S3；若否，则执行步骤S9；S3、构建单次评估矩阵；S4、构建待评估的单输入向量矩阵和基准单输入向量矩阵；S5、生成注入位置；S6、注入至单次评估矩阵；S7、计算原始输出信号故障次数；S8、计算单输入向量的可靠性，执行步骤S12；S9、构建待评估多输入向量矩阵；S10、计算故障次数；S11、计算多输入向量的平均可靠值；S12、返回可靠性评估结果。与现有技术相比，本发明首次对时序电路的输入向量的可靠性进行评估，不仅支持多个输入向量的平均可靠性评估还支持单个输入向量的可靠性评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 时序电路 输入 向量 可靠性 评估 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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