[发明专利]内存条PMIC芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310839620.3 | 申请日： | 2023-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN116935946A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 陈彦婷;黄秋容;杨海洋 | 申请（专利权）人： | 南宁泰克半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/50 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 丁宇龙 |
| 地址： | 530000 广西壮族自治区南宁市中国（广西）自由贸易试验区南宁片*** | 国省代码： | 广西;45 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了内存条PMIC芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括：采用降压模块进行供电；当接收到内存条插入至内存条插槽所生成的接入信号时，向触摸电阻串口屏发送标识信息；其中，所述标识信息包括内存条插槽的内存条在位信息；对PMIC芯片的寄存器进行读取，并将读取数据显示于所述触摸电阻串口屏上；其中，所述读取数据包括功耗数据、温度数据、电压数据、电流数据和寄存器相关信息；根据所述触摸电阻串口屏显示的读取数据对PMIC芯片进行监测；对所述触摸电阻串口屏配置多级菜单，并将多级菜单与所述PMIC芯片的寄存器相关联，然后基于关联结果通过多级菜单对所述PMIC芯片的寄存器进行管理。本发明能够达到PMIC的可测试的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 内存条 pmic 芯片 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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