[发明专利]用于高纯锗单晶低温霍尔检测的检测组件及检测方法在审
申请号: | 202310855864.0 | 申请日: | 2023-07-12 |
公开(公告)号: | CN116893217A | 公开(公告)日: | 2023-10-17 |
发明(设计)人: | 顾小英;牛晓东;赵青松;狄聚青 | 申请(专利权)人: | 安徽光智科技有限公司 |
主分类号: | G01N27/72 | 分类号: | G01N27/72 |
代理公司: | 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 | 代理人: | 张向琨 |
地址: | 239004 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 提供一种用于高纯锗单晶低温霍尔检测的检测组件及检测方法。检测组件包括电路板,电路板具有板面以及四个电极。检测组件还包括弹性杠杆机构以及镓铟共晶合金。弹性杠杆机构包括两支座、绝缘板、两枢转轴以及金属螺旋弹簧;绝缘板具有操作部和施压部,施压部穿过两个电极之间进入四个电极围成的空间内;两枢转轴分别枢接于两支座;金属螺旋弹簧为热胀冷缩材质,金属螺旋弹簧的上端固定于施压部的下表面、下端固定于板面,金属螺旋弹簧沿垂直于板面的方向上的尺寸设置成在施压部未施加压力的情况下使得绝缘板相对电路板的板面倾斜且施压部相对操作部靠近板面但与板面间隔开。镓铟共晶合金用于使高纯锗单晶方片与四个电极电连接。 | ||
搜索关键词: | 用于 高纯 锗单晶 低温 霍尔 检测 组件 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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