[发明专利]一种边缘浮栅晶体管的存储方法在审

专利信息
申请号: 202310886195.3 申请日: 2023-07-18
公开(公告)号: CN116936641A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 任天令;田禾;吴凡 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01L29/788 分类号: H01L29/788;G11C16/04
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 张建纲
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种边缘浮栅晶体管的存储方法,边缘浮栅晶体管包括背栅极、背栅介质层、第二介质层、沟道层、第一电极和第二电极;背栅介质层覆盖在背栅极上;沟道层覆盖在第二介质层上,且第二介质层和沟道层均为台阶状的结构;第一电极和第二电极分别位于沟道层的下台阶面和上台阶面的上方;第二介质层的下台阶面覆盖在背栅介质层上;第二介质层的上台阶面的下方与背栅介质层之间,由下到上还依次层叠设置有第一栅极、第一介质层和第二栅极;背栅极、第一栅极及第二栅极各能够控制沟道层的一段沟道区域的选通;边缘浮栅晶体管通过使电子移动至第一栅极内完成写入操作;边缘浮栅晶体管通过使电子移动出第一栅极完成擦除操作。
搜索关键词: 一种 边缘 晶体管 存储 方法
【主权项】:
暂无信息
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