[发明专利]一种芯片侦测方法、系统及存储介质在审

专利信息
申请号: 202311189630.3 申请日: 2023-09-15
公开(公告)号: CN116938393A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 姚菲;孙景涛 申请(专利权)人: 湖北芯擎科技有限公司
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H04L1/1607;H04L1/24
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 杨瑞
地址: 430056 湖北省武汉市经济技*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种芯片侦测方法、系统及存储介质,该方法包括:芯片侦测方法,应用于待测集成芯片,待测集成芯片同时支持接收功能和发送功能,待测集成芯片包括应用处理器模块和回环通路,回环通路包括依次顺序连接的发送数据控制模块、发送模块、回路模块、接收模块和接收数据控制模块,方法包括:应用处理器模块发送侦测数据至发送数据控制模块;应用处理器模块接收经过回环通路的连接顺序回传的侦测数据;应用处理器比较发送的侦测数据和接收的侦测数据是否相同,根据比较结果获得对应的测试结果。本发明实现芯片自检功能,提高系统可靠性,满足功能安全的要求。同时也可以简化芯片测试的复杂度,减小测试占用面积,降低测试时间和人力成本。
搜索关键词: 一种 芯片 侦测 方法 系统 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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