[实用新型]一种芯片测试装置有效
申请号: | 202320291888.3 | 申请日: | 2023-02-23 |
公开(公告)号: | CN219871419U | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | 刘兴家;王剑峰;王延明;王靖雯;戚伟佳;金宇;刘兴禄 | 申请(专利权)人: | 长春博利恩科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/02;G01R31/28 |
代理公司: | 安徽智鼎华诚专利代理事务所(普通合伙) 34242 | 代理人: | 马子轩 |
地址: | 130000 吉林省长春市净月高新技*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本实用新型公开了一种芯片测试装置,涉及芯片测试技术领域,包括支撑台,支撑台的顶部一侧固定连接有气缸,该芯片测试装置,通过在测试台上设置多个测试组件,能够在上一个芯片测试时将下一个待测试芯片放置在下一个测试组件中,待上一个芯片完成测试时,下一个测试组件能够快速到达待测试位置,从而能够实现连续测试芯片的目的,提高了芯片的测试效率,此外,通过在测试箱的内部设置风机,利用上测试模块下移时开启风机开关,从而能够在芯片测试时对测试箱内部进行散热,避免芯片由于温度过高而损坏,而上测试模块与下测试模块脱离后,开关再次关闭,从而能够实现风机自动开闭的目的,避免在未测试过程中风机持续工作浪费电能的情况。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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