[实用新型]一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置有效
申请号: | 202320951700.3 | 申请日: | 2023-04-25 |
公开(公告)号: | CN219869495U | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | 刘宗银;王伟祥;谌晓亚;周杰 | 申请(专利权)人: | 漯河森帆工贸有限公司 |
主分类号: | G01B5/28 | 分类号: | G01B5/28 |
代理公司: | 郑州浩翔专利代理事务所(特殊普通合伙) 41149 | 代理人: | 边延松 |
地址: | 462300 河南省*** | 国省代码: | 河南;41 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本实用新型涉瓦楞纸生产装置技术领域,尤其为一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,包括调节组件和测量组件,其特征在于:所述调节组件的前侧设置有测量组件,通过在瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置上设置调节组件和测量组件,在进行测量时,通过调节组件可带动测量线向下移动,当每个测量线都卡接在凹陷的位置处时,瓦楞纸表面波形较为均匀,若有部分测量线没有卡接在凹陷的位置处时,瓦楞纸表面波形不均匀,从而在测量时,可快速的测量出瓦楞纸表面波形的均匀度,在测量时较为方便,整体装置结构简单、操作方便且实用性更高。 | ||
搜索关键词: | 一种 瓦楞纸 表面 波形 瓦楞 均匀 测量 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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