[实用新型]用于综合参数测试的传递标准装置有效

专利信息
申请号: 201820656674.0 申请日: 2018-05-03
公开(公告)号: CN208091478U 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: 楼红英;杨忠;陈效杰;沈保龙 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十四研究所
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 高娇阳
地址: 210039 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 适配器 测试系统 传递标准装置 综合参数测试 本实用新型 标准件 控制板 良导体 低噪声放大器 仪表利用率 测量系统 工作稳定 工作效率 计量效率 经费开支 快速故障 生产效率 外壳外部 依次相连 整套系统 不停机 衰减器 校准 保证 计量 停产 诊断 节约
【权利要求书】:

1.用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于,包括两部分:集成在良导体外壳上的标准件集成部分、适配器部分;标准件集成部分包括开关、衰减器,即ATT、控制板、低噪声放大器,即LNA,适配器部分包括适配器;

控制板分别与开关、ATT、LNA相连,同时开关、ATT、LNA依次相连;适配器在良导体外壳外部与开关相连。

2.根据权利要求1所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:开关和ATT均有控制接口;控制板采用外接电源,控制板上设有USB接口,通过USB接口与控制计算机通信,控制板采用ARM作主控芯片,并采用可编程逻辑器件,即CPLD;USB接口、ARM、CPLD依次相连。

3.根据权利要求1所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:控制板的电源包括电源分配模块、稳压电路,电源分配模块连接微波开关衰减器,微波开关衰减器与CPLD相连。

4.根据权利要求1所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:LNA在良导体外壳上采用外置方式集成,LNA下方设计了大面积散热器。

5.根据权利要求1所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:ATT、LNA通过电缆相连,电缆采用微波连接电缆。

6.根据权利要求5所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:微波连接电缆采用预先成型的半刚电缆。

7.根据权利要求1至6中任一所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:LNA上设有LNA电源输入端、LNA输入端、LNA输出端,良导体外壳下侧面设置LNA供电端口,并通过LNA供电线与LNA电源输入端相连,良导体外壳设放大信号输入端,通过电缆与LNA输出端相连。

8.根据权利要求7所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:良导体外壳上还连接接地线,开关的输出输入口伸出良导体外壳,与适配器连接。

9.根据权利要求8所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:开关为多路微波开关,开关的输出输入口包括输出端口、输入输出端口,开关的接口设置为BMA接口。

10.根据权利要求7所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:良导体外壳上还设有电源输入端、网口。

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