[实用新型]用于综合参数测试的传递标准装置有效
申请号: | 201820656674.0 | 申请日: | 2018-05-03 |
公开(公告)号: | CN208091478U | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 楼红英;杨忠;陈效杰;沈保龙 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十四研究所 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 高娇阳 |
地址: | 210039 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 适配器 测试系统 传递标准装置 综合参数测试 本实用新型 标准件 控制板 良导体 低噪声放大器 仪表利用率 测量系统 工作稳定 工作效率 计量效率 经费开支 快速故障 生产效率 外壳外部 依次相连 整套系统 不停机 衰减器 校准 保证 计量 停产 诊断 节约 | ||
1.用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于,包括两部分:集成在良导体外壳上的标准件集成部分、适配器部分;标准件集成部分包括开关、衰减器,即ATT、控制板、低噪声放大器,即LNA,适配器部分包括适配器;
控制板分别与开关、ATT、LNA相连,同时开关、ATT、LNA依次相连;适配器在良导体外壳外部与开关相连。
2.根据权利要求1所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:开关和ATT均有控制接口;控制板采用外接电源,控制板上设有USB接口,通过USB接口与控制计算机通信,控制板采用ARM作主控芯片,并采用可编程逻辑器件,即CPLD;USB接口、ARM、CPLD依次相连。
3.根据权利要求1所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:控制板的电源包括电源分配模块、稳压电路,电源分配模块连接微波开关衰减器,微波开关衰减器与CPLD相连。
4.根据权利要求1所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:LNA在良导体外壳上采用外置方式集成,LNA下方设计了大面积散热器。
5.根据权利要求1所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:ATT、LNA通过电缆相连,电缆采用微波连接电缆。
6.根据权利要求5所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:微波连接电缆采用预先成型的半刚电缆。
7.根据权利要求1至6中任一所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:LNA上设有LNA电源输入端、LNA输入端、LNA输出端,良导体外壳下侧面设置LNA供电端口,并通过LNA供电线与LNA电源输入端相连,良导体外壳设放大信号输入端,通过电缆与LNA输出端相连。
8.根据权利要求7所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:良导体外壳上还连接接地线,开关的输出输入口伸出良导体外壳,与适配器连接。
9.根据权利要求8所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:开关为多路微波开关,开关的输出输入口包括输出端口、输入输出端口,开关的接口设置为BMA接口。
10.根据权利要求7所述的用于综合参数测试的传递标准装置,其特征在于:良导体外壳上还设有电源输入端、网口。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十四研究所,未经中国电子科技集团公司第十四研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201820656674.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种传感器温度补偿校准装置
- 下一篇:一种高效包衣实验机