[发明专利]被测系统的测试方法、装置及系统有效
申请号: | 201811417500.X | 申请日: | 2018-11-26 |
公开(公告)号: | CN109617757B | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 马巍 | 申请(专利权)人: | 北京润科通用技术有限公司 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26;H04L1/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 巴翠昆;王宝筠 |
地址: | 100192 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种测试方法、装置和系统,其中测试方法应用于可编程器件,接收对被测系统执行测试操作的测试参数;其中测试参数包括基本参数和控制参数;利用基本参数构建原始数据帧,以及,利用控制参数确定调控属性;基于调控属性批量发送原始数据帧至被测系统,并接收被测系统批量转发的反馈数据帧;综合分析原始数据帧和批量反馈数据帧,获得综合测试结果。本发明应用于硬件中,相比于现有技术的上位机软件而言硬件可以大大提高处理速率,从而提高构建原始数据帧的效率以及分析综合测试结果的效率。 | ||
搜索关键词: | 系统 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测试方法,其特征在于,应用于可编程器件,所述方法包括:接收对被测系统执行测试操作的测试参数;其中所述测试参数包括基本参数和控制参数;利用所述基本参数构建原始数据帧,以及,利用所述控制参数确定调控属性;基于所述调控属性批量发送所述原始数据帧至所述被测系统,并接收所述被测系统批量转发的反馈数据帧;综合分析所述原始数据帧和批量反馈数据帧,获得综合测试结果。
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