[发明专利]被测系统的测试方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201811417500.X 申请日: 2018-11-26
公开(公告)号: CN109617757B 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 马巍 申请(专利权)人: 北京润科通用技术有限公司
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26;H04L1/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 巴翠昆;王宝筠
地址: 100192 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种测试方法、装置和系统,其中测试方法应用于可编程器件,接收对被测系统执行测试操作的测试参数;其中测试参数包括基本参数和控制参数;利用基本参数构建原始数据帧,以及,利用控制参数确定调控属性;基于调控属性批量发送原始数据帧至被测系统,并接收被测系统批量转发的反馈数据帧;综合分析原始数据帧和批量反馈数据帧,获得综合测试结果。本发明应用于硬件中,相比于现有技术的上位机软件而言硬件可以大大提高处理速率,从而提高构建原始数据帧的效率以及分析综合测试结果的效率。
搜索关键词: 系统 测试 方法 装置
【主权项】:
1.一种测试方法,其特征在于,应用于可编程器件,所述方法包括:接收对被测系统执行测试操作的测试参数;其中所述测试参数包括基本参数和控制参数;利用所述基本参数构建原始数据帧,以及,利用所述控制参数确定调控属性;基于所述调控属性批量发送所述原始数据帧至所述被测系统,并接收所述被测系统批量转发的反馈数据帧;综合分析所述原始数据帧和批量反馈数据帧,获得综合测试结果。
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