[发明专利]一种内存测试方法在审
申请号: | 201910239953.6 | 申请日: | 2019-03-27 |
公开(公告)号: | CN109961824A | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | 庞潇 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/36 | 分类号: | G11C29/36;G11C29/52 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 内存空间 写入 内存 内存测试 写入数据 读取 测试环节 地址空间 快速测试 数据类型 数据取反 稳定运行 相邻地址 不一致 报错 取反 跳变 服务器 测试 保证 生产 | ||
本发明公开了一种内存测试方法,包括以下步骤:步骤一,写入数据到所有内存空间;步骤二,将步骤一写入的数据取反后间隔地写入内存空间,写入的地址按照设定步长跳变;步骤三,读取步骤二中写入取反数据的内存空间相邻地址的数据,和步骤一中写入数据比较,不一致则报错。本发明能够在测试环节通过对数据类型和地址空间的组合,在测试和生产时排除掉有风险的内存,仅使用品质高的内存,可以有效保证服务器的稳定运行,快速测试出内存错误。
技术领域
本发明涉及一种内存测试方法。
背景技术
在服务器使用过程中,内存报错对系统性能和稳定性有很大影响,可纠正的ECC会占用CPU纠错资源,而不可纠正的UCE错误则会直接导致系统致命性的宕机,所以提前筛选出故障内存非常重要,在测试和生产时排除掉有风险的内存,仅使用品质高的内存,可以有效保证服务器的稳定运行。
内存常见的错误有两种,一种是内存最基本的存储单元电容发生物理故障,不能完成高低电平的转换,即发生了固定型错误(SAFs);另一种常见错误是内存行列地址不能在规定时间内完成解码,即发生了地址解码错误(AFs)。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提出一种内存测试方法,能够在测试环节通过对数据类型和地址空间的组合,在测试和生产时排除掉有风险的内存,仅使用品质高的内存,可以有效保证服务器的稳定运行,快速测试出内存错误。
本发明提供了一种内存测试方法,包括以下步骤:
步骤一,写入数据到所有内存空间;
步骤二,将步骤一写入的数据取反后间隔地写入内存空间,写入的地址按照设定步长跳变;
步骤三,读取步骤二中写入取反数据的内存空间相邻地址的数据,和步骤一中写入数据比较,不一致则报错;
步骤四,写入数据到所有内存空间;
步骤五,将步骤四写入的数据取反后间隔地写入行,写入行按照设定步长跳变;
步骤六,读取步骤五中写入取反数据的内存空间相邻上下行的数据,和步骤四中写入数据比较,不一致则报错;
步骤七,写入数据到所有内存空间;
步骤八,将步骤七写入的数据取反后间隔地写入列,写入列按照设定步长跳变;
步骤九,读取步骤八中写入取反数据的内存空间相邻左右列的数据,和步骤七中写入数据比较,不一致则报错;
优选地,在步骤一写入数据到所有内存空间之前还包括:内存初始化;
优选地,在步骤一写入数据到所有内存空间之前还包括:设定刷新时间间隔;
通常主板上使用的内存条应该叫做动态DRAM,其中的数据是靠电容特性存储的。由于电容会放电,要维持数据,就要不断的给它充电。给动态DRAM定期充电的机制就叫做数据刷新时钟电路,即内存刷新电路,内存刷新电路必须在数毫秒(ms)之内对DRAM刷新一次,否则数据就会丢失。本发明的刷新时间间隔选取的比正常使用时行业规定的长一些,这样可以快速测试出内存错误,排除掉有风险的内存。
优选地,在步骤一写入数据到所有内存空间之前还包括:设定写入数据的组合类型。
可以采用预先设定数据组合类型,在实际测试中也可以由测试者选择输入数据组合类型。测试常用的数据组合类型有0x01010101和0x0f0f0f0f。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州浪潮智能科技有限公司,未经苏州浪潮智能科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910239953.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 一种内存测试方法-201910239953.6
- 庞潇 - 苏州浪潮智能科技有限公司
- 2019-03-27 - 2019-07-02 - G11C29/36
- 本发明公开了一种内存测试方法,包括以下步骤:步骤一,写入数据到所有内存空间;步骤二,将步骤一写入的数据取反后间隔地写入内存空间,写入的地址按照设定步长跳变;步骤三,读取步骤二中写入取反数据的内存空间相邻地址的数据,和步骤一中写入数据比较,不一致则报错。本发明能够在测试环节通过对数据类型和地址空间的组合,在测试和生产时排除掉有风险的内存,仅使用品质高的内存,可以有效保证服务器的稳定运行,快速测试出内存错误。
- 双倍速率同步动态随机存储器稳定性测试方法及系统-201810362042.8
- 孙进伟;李洋;杨元成;陈世雷;李金亭;王萧 - 青岛海信电器股份有限公司
- 2018-04-20 - 2018-09-28 - G11C29/36
- 本发明提供一种双倍速率同步动态随机存储器稳定性测试方法及系统。图形处理器在DDR的第一内存区域中填充数据,并将填充的数据复制到DDR的第二内存区域中,完成数据的读取和写入。图形处理器对比设定的预设特征值与第二内存区域中的数据,进而确定DDR稳定性测试结果。大量数据的读取和写入能够增加DDR处理数据的压力,便于检测出DDR的处理数据能力,进而在判断DDR稳定性时,能够提高判断的准确性。大量数据的读取和写入均由图形处理器完成,并没有占用CPU的运算资源,且图形处理器能够快速完成数据处理,因此,通过图形处理器检测DDR稳定性能够大大提高DDR稳定性测试的测试速度和测试效率,且不占用CPU的运算资源。
- 集成电路芯片和半导体存储器件-201210073977.7
- 都昌镐 - 海力士半导体有限公司
- 2012-03-20 - 2017-04-12 - G11C29/36
- 本发明公开了一种集成电路芯片和半导体存储器件。所述集成电路芯片包括内部电路,所述内部电路被配置成产生输出数据;反相判定单元,所述反相判定单元被配置成根据与所述集成电路芯片的状态有关的状态信息将反相信号激活/去激活;以及信号输出电路,所述信号输出电路被配置成响应于所述反相信号而将所述输出数据反相或不将所述输出数据反相,并输出反相的或未反相的输出数据。
- 专利分类