[发明专利]一种中子无损检测系统有效
| 申请号： | 201010294769.0 | 申请日： | 2010-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN102419335A | 公开（公告）日： | 2012-04-18 |
| 发明（设计）人： | 邹宇斌;温伟伟;唐国有;李航 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01N23/05 | 分类号： | G01N23/05 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人： | 陈美章 |
| 地址： | 100871 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种中子无损检测系统，属于射线无损检测领域。本系统包括一中子源、测试样品放置装置、成像装置、图像处理单元；所述中子源与所述成像装置位于所述测试样品放置装置的同一侧或所述测试样品放置装置相对的两侧；其中所述成像装置包括光阑和热中子位置灵敏探测器，所述光阑位于所述测试样品放置装置与所述热中子位置灵敏探测器之间，所述热中子位置灵敏探测器经数据线与所述图像处理单元连接。与现有技术相比，本发明可以实现厚样品高分辨率高反差灵敏度的无损检测，成像系统位置灵活可调，能实现单次照射大范围检测，并且方便实际应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 中子 无损 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种中子无损检测系统，其特征在于包括一中子源、测试样品放置装置、成像装置、图像处理单元；所述中子源与所述成像装置位于所述测试样品放置装置的同一侧或所述测试样品放置装置相对的两侧；其中所述成像装置包括光阑、位置灵敏探测器，所述光阑位于所述测试样品放置装置与所述位置灵敏探测器之间，所述位置灵敏探测器经数据线与所述图像处理单元连接。
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