[发明专利]金属栅极结构无效
申请号: | 201110104782.X | 申请日: | 2011-04-26 |
公开(公告)号: | CN102760758A | 公开(公告)日: | 2012-10-31 |
发明(设计)人: | 林坤贤;黄信富;李宗颖;蔡旻錞;许启茂;林进富 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/49 | 分类号: | H01L29/49;H01L29/51 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种金属栅极结构,该金属栅极结构包括有高介电常数栅极介电层、含氮层、功函数金属层、以及氮捕陷层。该含氮层设置于该功函数金属层与该高介电常数栅极介电层之间;而该氮捕陷层设置于该功函数金属层与该高介电常数栅极介电层之间,且该氮捕陷层不包括任何氮离子或包括低浓度氮离子。 | ||
搜索关键词: | 金属 栅极 结构 | ||
【主权项】:
一种金属栅极结构,包括有:高介电常数栅极介电层;功函数金属层;含氮层,设置于该功函数金属层与该高介电常数栅极介电层之间;以及氮捕陷层,设置于该功函数金属层与该高介电常数栅极介电层之间,且该氮捕陷层不包括任何氮离子。
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