[发明专利]扭曲指纹的校正方法及系统有效

专利信息
申请号: 201410214949.1 申请日: 2014-05-20
公开(公告)号: CN103984929B 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 冯建江;周杰;司轩斌 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 代理人: 张大威
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种扭曲指纹的校正方法及系统,其中方法包括以下步骤获得多组扭曲参考指纹及与该扭曲参考指纹对应的正常指纹,得到每个扭曲参考指纹的稠密扭曲场及特征,以此来生成扭曲参考指纹库;提取待校正扭曲指纹的特征;在扭曲参考指纹数据库中搜索与待校正扭曲指纹的特征匹配的扭曲参考指纹的特征;获得与特征匹配的扭曲参考指纹对应的稠密扭曲场,并根据该稠密扭曲场对待校正扭曲指纹进行校正。根据本发明的方法,通过生成扭曲参考指纹库,并利用所提取的扭曲指纹的特征在扭曲参考指纹库得到其对应的稠密扭曲场,以对扭曲指纹进行有效地校正,从而方便进一步的分析,同时具有良好的可移植性。
搜索关键词: 扭曲 指纹 校正 方法 系统
【主权项】:
一种扭曲指纹的校正方法,其特征在于,包括以下步骤:扭曲参考指纹库生成步骤,获得多组扭曲参考指纹及与该扭曲参考指纹对应的正常指纹,得到每个扭曲参考指纹的稠密扭曲场及特征,以生成扭曲参考指纹库,其中,将手指以正常的采集方式按在指纹采集器上得到正常指纹,将手指向多个方向扭曲,获得多个扭曲指纹,再根据指纹匹配算法或者手工标注得到这两个指纹之间的细节点的对应点,利用多项式模型、薄板样条模型数学模型拟合对应点,得到扭曲指纹的稠密扭曲场;特征提取步骤,提取待校正扭曲指纹的特征;特征匹配步骤,在所述扭曲参考指纹库中搜索与所述待校正扭曲指纹的特征匹配的扭曲参考指纹的特征;以及校正步骤,获得与特征匹配的所述扭曲参考指纹对应的稠密扭曲场,并根据所述稠密扭曲场对所述待校正扭曲指纹进行校正。
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