[发明专利]再分布层以及形成再分布层的方法在审

专利信息
申请号: 201410601468.6 申请日: 2014-10-30
公开(公告)号: CN104600053A 公开(公告)日: 2015-05-06
发明(设计)人: G·迈耶-伯格;R·普法尔 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L21/48
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 诺伊比*** 国省代码:
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摘要: 提供了一种用于芯片的再分布层,其中再分布层包括使两个连接点彼此连接的至少一个电导体路径,其中至少一个电导体路径被布置在平坦的支撑层上,以及其中电导体路径包括铜和数量上大于0.04的质量百分比的至少一种其他另一导电材料。
搜索关键词: 再分 以及 形成 方法
【主权项】:
一种用于芯片的再分布层,所述再分布层包括:使两个连接点彼此连接的至少一个电导体路径,其中所述至少一个电导体路径被布置在平坦的支撑层上,以及其中所述电导体路径包括铜和数量上大于0.04的质量百分比的至少一种其他另一导电材料。
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