[发明专利]用于呈现微粒立体形貌的装置有效

专利信息
申请号: 201510361130.2 申请日: 2015-06-28
公开(公告)号: CN105004886B 公开(公告)日: 2018-03-06
发明(设计)人: 边义祥;钱国明 申请(专利权)人: 扬州大学
主分类号: G01Q60/14 分类号: G01Q60/14
代理公司: 扬州苏中专利事务所(普通合伙)32222 代理人: 孙忠明
地址: 225009 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种用于呈现微粒立体形貌的装置,属于呈像仪器技术领域,主要特点是在底座中部的中间载物工作台两侧的底座上分别固定左边电极工作台、右边电极工作台,本发明利用隧道效应,针对传统式显微镜只能观测探头所正对样品的端面的形貌这一局限,通过中间载物工作台两侧的底座上分别固定的左边电极工作台、右边电极工作台控制左右电极工作台上的左右两个电极之间及中间被测物体的相对位置,突破性对所固定在中间载物台上的原子或近似原子级大小的微粒进行360°全方位立体扫描,扫面样品的各个平面并有利于呈现出来其真正的三维立体的结构形貌,本发明结构相对简单,适用性很强,具有很高的经济效益和社会效益。
搜索关键词: 用于 呈现 微粒 立体 形貌 装置
【主权项】:
一种用于呈现微粒立体形貌的装置,其特征是,所述装置包括底座,底座中部的中间载物工作台,中间载物工作台两侧的底座上分别固定的左边电极工作台、右边电极工作台;两电极工作台分别经其自动进给功能控制相应电极工作台上的电极之间及中间被测物体的相对位置;所述左边电极工作台、右边电极工作台均为三维位移工作台,各电极夹持器分别安装在相应边的三维压电微位移工作台上;各三维压电微位移工作台分别通过支架安装在相应边的三维位移工作台上,三维位移工作台安装在底座上。
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