[发明专利]阻抗测量仪器校准方法及装置在审

专利信息
申请号: 201610950039.9 申请日: 2016-10-26
公开(公告)号: CN107991637A 公开(公告)日: 2018-05-04
发明(设计)人: 韩雪竹;韩卫合 申请(专利权)人: 北大方正集团有限公司;珠海方正科技高密电子有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 张娜,刘芳
地址: 100871 北京市海*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实施例提供一种阻抗测量仪器校准方法及装置。该方法包括获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;若需要校准,则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。本发明实施例通过测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值,确定所述阻抗测量仪器是否需要校准,若需要校准时,对所述阻抗测量仪器进行校准处理;若所述阻抗测量仪器无需进行校准时,可以直接投入使用,而无需使用标准空气棒进行校准,减少了标准空气棒的使用次数,节省了使用标准空气棒进行校准的时间,从而可以减少标准空气棒的耗损,降低了校准成本。
搜索关键词: 阻抗 测量 仪器 校准 方法 装置
【主权项】:
一种阻抗测量仪器校准方法,其特征在于,包括:获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;若需要校准,则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北大方正集团有限公司;珠海方正科技高密电子有限公司,未经北大方正集团有限公司;珠海方正科技高密电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610950039.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top