[发明专利]存储单元单粒子翻转功能传播率的计算方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710119527.X 申请日: 2017-03-02
公开(公告)号: CN107025331B 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 赵元富;郑宏超;李哲;岳素格;王亮;李建成;陈茂鑫;喻贤坤;姜柯;于春青;王汉宁;刘琳;毕潇;杜守刚;王煌伟;赵旭;穆里隆;李继华;简贵胄;初飞;祝长民;王思聪;李月 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 范晓毅
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种存储单元单粒子翻转功能传播率的计算方法及装置。该方法包括:获取仿真输入向量的仿真时间,并统计数字集成电路中预选单一种类的存储单元的数量;统计每个存储单元的单粒子翻转有效生存时间;根据所述单粒子翻转有效生存时间和所述仿真时间,计算每个存储单元的单粒子翻转功能传播率,所述单粒子翻转功能传播率为发生单粒子翻转的存储单元被捕获且传播的概率;利用每个存储单元的单粒子翻转功能传播率和所述数量,计算所述预选单一种类的存储单元的单粒子翻转功能传播率。本发明实现了区分和模拟单粒子翻转效应在不同种类存储单元中的产生、捕获、掩蔽及传导过程,提高集成电路级单粒子翻转效应的仿真准确度的目的。
搜索关键词: 存储 单元 粒子 翻转 功能 传播 计算方法 装置
【主权项】:
一种存储单元单粒子翻转功能传播率的计算方法,其特征在于,包括:获取仿真输入向量的仿真时间,并统计数字集成电路中预选单一种类的存储单元的数量;统计每个所述存储单元的单粒子翻转有效生存时间;根据所述单粒子翻转有效生存时间和所述仿真时间,计算每个所述存储单元的单粒子翻转功能传播率,所述单粒子翻转功能传播率为发生单粒子翻转的存储单元被捕获且传播的概率;利用所述每个存储单元的单粒子翻转功能传播率和所述数量,计算所述预选单一种类的存储单元的单粒子翻转功能传播率。
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