[发明专利]转角轨迹失败的判断方法、电子设备和计算机存储介质在审
申请号: | 201711298052.1 | 申请日: | 2017-12-08 |
公开(公告)号: | CN107944182A | 公开(公告)日: | 2018-04-20 |
发明(设计)人: | 肖冬;徐家骝;黎霸俊 | 申请(专利权)人: | 东北大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙)11613 | 代理人: | 韩国胜 |
地址: | 110169 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种转角轨迹失败的判断方法、电子设备和计算机存储介质。该方法获取转角轨迹失败参数;将转角轨迹失败参数输入转角轨迹失败判断模型,判断是否存在转角轨迹失败;其中,转角轨迹失败判断模型是预先通过对重构后的数据样本进行ELM建模得到的。本发明的转角轨迹失败的判断方法,获取转角轨迹失败参数;将转角轨迹失败参数输入转角轨迹失败判断模型,判断是否存在转角轨迹失败;其中,转角轨迹失败判断模型是预先通过对重构后的数据样本进行ELM建模得到的,实现了提前判断可能产生转角轨迹失败指令。 | ||
搜索关键词: | 转角 轨迹 失败 判断 方法 电子设备 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】:
一种转角轨迹失败的判断方法,其特征在于,所述方法,包括:S101,获取转角轨迹失败参数;S102,将所述转角轨迹失败参数输入转角轨迹失败判断模型,判断是否存在转角轨迹失败;其中,所述转角轨迹失败判断模型是预先通过对重构后的数据样本进行极限学习机ELM建模得到的。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东北大学,未经东北大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711298052.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。