[发明专利]一种三维存储器结构在审

专利信息
申请号: 201910415247.2 申请日: 2019-05-17
公开(公告)号: CN110299361A 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: 景蔚亮;张格毅;陈邦明 申请(专利权)人: 上海新储集成电路有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L27/11524;H01L27/11551;H01L27/1157;H01L27/11578
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201500 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种三维存储器结构,涉及集成电路领域,包含一衬底,于所述衬底上形成逻辑电路层,并于所述逻辑电路层上形成易失性存储层,随后于所述易失性存储层上形成三维存储层;所述易失性存储层中包括多个第一存储单元,所述第一存储单元为eDRAM存储单元;所述三维存储层中包括多个第二存储单元,所述第二存储单元为3D NAND存储单元;采用所述第一存储单元作为所述第二存储单元的缓存;每个所述第一存储单元包括一读晶体管、一写晶体管以及一电容,采用2T1C结构形成。本发明的有益效果:优化了现有三维存储器的结构,提高了存储密度,使得相同使用面积可以提供更多的存储单元。
搜索关键词: 存储单元 第二存储单元 三维存储器 易失性存储 三维存储层 衬底 集成电路领域 缓存 结构形成 写晶体管 电容 晶体管 存储 优化
【主权项】:
1.一种三维存储器结构,其特征在于,包括一衬底,于所述衬底上形成逻辑电路层,并于所述逻辑电路层上形成易失性存储层,随后于所述易失性存储层上形成三维存储层;所述易失性存储层中包括多个第一存储单元,所述第一存储单元为eDRAM存储单元;所述三维存储层中包括多个第二存储单元,所述第二存储单元为3D NAND存储单元;采用所述第一存储单元作为所述第二存储单元的缓存;每个所述第一存储单元包括一读晶体管、一写晶体管以及一电容,采用2T1C结构形成。
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