[发明专利]一种太阳辐射量出现概率分布解析方法、太阳辐射量出现概率分布解析系统有效

专利信息
申请号: 201980003906.X 申请日: 2019-09-13
公开(公告)号: CN111699414B 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 高桥秀幸;堀内良雄 申请(专利权)人: 株式会社秀住房
主分类号: G01W1/12 分类号: G01W1/12;G06F17/18
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 卜劲鸿
地址: 日本爱知县丰*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明要解决的问题是:简化太阳辐射量数据的统计处理,或基于随机性解释来解析直方图化的太阳辐射量出现概率分布并将太阳辐射量数学建模为计算式,所述太阳辐射量数据用于计算预测,所述计算预测需要将太阳辐射量作为变量的情况计算。本发明使计算机的处理器执行以下步骤:接受太阳辐射量数据的输入并存储在数据库中;基于所述太阳辐射量数据来确定太阳辐射量出现概率分布;基于所述太阳辐射量出现概率分布、和第一概率密度函数及第二概率密度函数,来确定太阳辐射量估计模型并存储在所述数据库中,所述太阳辐射量估计模型由与所述第一概率密度函数关联的第一众数及第一偏差、与所述第二概率密度函数关联的第二众数及第二偏差、所述第一概率密度函数的分配系数、和所述第二概率密度函数的分配系数组成;将积分值作为重叠度存储在所述数据库中,所述积分值表示基于所述太阳辐射量估计模型的概率分布的重叠。本发明使计算机的处理器执行以下步骤:管理步骤,接受太阳辐射量数据的输入;分析步骤,基于太阳辐射量数据来确定太阳辐射量出现概率分布;其中,太阳辐射量出现概率分布将无量纲量作为随机变量。
搜索关键词: 一种 太阳 辐射量 出现 概率 分布 解析 方法 系统
【主权项】:
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  • 高振翔;叶剑;沈伟;赵燕华;崔晓玉;张莹;丘文先;董钰春;王艺润 - 高振翔
  • 2017-09-29 - 2018-04-27 - G01W1/12
  • 本实用新型涉及一种日照传感器及测量系统,基于现有技术装置基础上,引入保护结构设计,通过第一透光罩体(3)的设计,避免各个第一光敏电阻(5)直接与外界接触,而且封闭腔体(4)内温控装置的设计,实时感知封闭腔体(4)内的温度,并基于温度的感知,针对各组温控装置中的加热电阻(1)实现控制,能够有效避免第一透光罩体(3)表面结冰或结霜,并保持第一透光罩体(3)表面干燥,减少灰尘在第一透光罩体(3)表面的附着,如此有效降低了雨、雪、冰、霜、露水、灰尘等对第一光敏电阻(5)产生的不良影响,提高了日照传感器的测量精度和使用寿命。
  • 一种房屋采光检测系统-201610339180.5
  • 贾俊铖;李云飞;严建峰;陆晓峰;郭晴岚 - 苏州大学
  • 2016-05-20 - 2017-11-21 - G01W1/12
  • 本发明公开了一种房屋采光检测系统,该系统包括用于在设定时间段内检测待测房屋的阳光直射,获得待测房屋的光照数据,并将光照数据发送给数据分析部件的光照检测部件;和,与光照检测部件连接的,用于接收光照检测部件发送的光照数据,获得与设定时间段对应的天气数据,对光照数据和天气数据进行分析,确定待测房屋的阳光直射时间的数据分析部件。应用本发明实施例所提供的房屋采光检测系统,可以准确地确定该待测房屋的阳光直射时间,为购买者购买楼房提供有效参考。
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