[发明专利]一种发射药中HNIW晶型转晶率原位分析方法在审

专利信息
申请号: 202010857425.X 申请日: 2020-08-24
公开(公告)号: CN112067596A 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 陈智群;刘国权;栾洁玉;徐敏;康莹;刘可;赵娟;王民昌;张皋;常海;苏鹏飞 申请(专利权)人: 西安近代化学研究所
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01N1/28
代理公司: 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 代理人: 王孝明
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种发射药中HNIW晶型转晶率原位分析方法,该方法包括以下步骤:步骤一、试样切片置于载玻片上:步骤二、光学显微镜下确定晶体区域:步骤三、显微拉曼对晶体原位测试获得HNIW拉曼谱图:步骤四、标准晶体拉曼数据获取,晶型识别,统计转晶率;步骤401,标准晶体的标准拉曼谱图获取:制备标准ε‑HNIW晶体、标准α‑HNIW晶体和标准γ‑HNIW晶体,将标准晶体置于显微镜下,测试拉曼光谱获得晶型标准拉曼谱图;步骤402,晶型识别;步骤403,转晶率统计。本发明的方法效率高、检出限低、准确可靠、切实可行。
搜索关键词: 一种 发射 hniw 晶型转晶率 原位 分析 方法
【主权项】:
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