[发明专利]芯片测试系统、方法、装置、介质及设备有效
申请号: | 202110191397.7 | 申请日: | 2021-02-19 |
公开(公告)号: | CN112782567B | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 李敏 | 申请(专利权)人: | 上海剑桥科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海港慧专利代理事务所(普通合伙) 31402 | 代理人: | 卞小婷 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种芯片测试系统以及方法,基于测试电脑安装的python程序自动化完成以下测试:发出检测指令;识别所述待检测芯片的版本;根据所述待检测芯片的版本,确定所述待检测芯片的待检测性能,并调用与所述待检测芯片的待检测性能相对应的控制命令指令集以进行检测;采集信号分析仪的检测结果,并将所述检测结果形成测试数据报告,可以有效提高各类通信芯片(例如WifiLTEBT5G‑NR等)射频性能测试效率,并提高测试的精准度。 | ||
搜索关键词: | 芯片 测试 系统 方法 装置 介质 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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