[发明专利]小型高频差分晶振的设计方法在审
申请号: | 202111662736.1 | 申请日: | 2021-12-31 |
公开(公告)号: | CN114497351A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 张秋艳;郑文强;段友峰;刘小光;睢建平;王作羽 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | H01L41/338 | 分类号: | H01L41/338;H01L21/66;H01L41/29;H03H3/02;H03H9/19 |
代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人: | 葛鹏 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种小型高频差分晶振的设计方法。该设计方法包括:步骤S1:根据设计参数要求,对小型高频差分晶振的基座、差分芯片、石英晶片以及金属盖板进行选取;步骤S2:确定差分芯片与基座的连接及键合位置,对差分芯片和基座进行布局布线,并将差分芯片固定于基座;步骤S3:对石英晶片进行切割;步骤S4:在石英晶片上镀上电极膜以形成石英振子;步骤S5:将石英振子固定于基座;步骤S6:利用金属盖板,将组装在一起的基座、差分芯片以及石英振子封装在一起形成小型高频差分晶振;步骤S7:对小型高频差分晶振的性能参数进行测试。本发明可以缩短小型高频差分晶振的设计时间,提高其设计效率和设计精确度。 | ||
搜索关键词: | 小型 高频 差分晶振 设计 方法 | ||
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