[发明专利]测试电路及测试方法在审
申请号: | 202210049696.1 | 申请日: | 2022-01-17 |
公开(公告)号: | CN116486885A | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 杨正杰 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 陈万青;张颖玲 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开实施例公开了一种测试电路及测试方法。其中,测试电路包括:第一信号端,用于接收第一电压;第二信号端,用于接收第二电压,所述第二电压的电压值低于所述第一电压的电压值;信号输出端,连接子字线驱动器的第一输入端;控制端,用于接收测试信号;基于所述测试信号的不同电平,所述信号输出端将所述第一电压或所述第二电压输出至所述第一输入端。本公开实施例的测试电路能够提高存在短路风险的问题产品的检出率。 | ||
搜索关键词: | 测试 电路 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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