[发明专利]一种降低因FLASH芯片缺陷导致FPGA初始化失败概率的方法在审
| 申请号： | 202210106355.3 | 申请日： | 2022-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN114550792A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 刘家玮;胡志臣;谢金源;苏前银;黄漪婧;杨立杰;殷晔;武福存;巫江涛;郑义;黄月芳;朱含 | 申请（专利权）人： | 北京航天测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G06F8/71;G06F8/65 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 李微微 |
| 地址： | 100041 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种降低因FLASH芯片缺陷导致FPGA初始化失败概率的方法，采用此方法，可以不改变原有硬件电路的前提下，通过增加上位机软件和FPGA内部逻辑的方法，使电子设备按既定周期定时重写FLASH芯片内存储的配置数据，从而降低因FLASH芯片因时间累积导致数据失效的概率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 降低 flash 芯片 缺陷 导致 fpga 初始化 失败 概率 方法 | ||
【主权项】：
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