[发明专利]用于确定微粒粒度的方法及装置、处理器及存储介质在审
| 申请号： | 202210575993.X | 申请日： | 2022-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN115219390A | 公开（公告）日： | 2022-10-21 |
| 发明（设计）人： | 李涛;韩永康;岑胜利;刘丹;蒲祖杨;杨小芳;杨玲;田馥源 | 申请（专利权）人： | 湖南洪康新材料科技有限公司;北京远大信达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 李红 |
| 地址： | 418000 湖南省怀化*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明实施例提供一种用于确定微粒粒度的方法及装置、处理器及存储介质，属于粒度测量技术领域。用于确定微粒粒度的方法包括：获取图像采集设备采集的进入流通池的待测微粒的图像；对图像进行处理，以确定待测微粒的沉降高度和外观信息；根据外观信息识别待测微粒对应的微粒种类，其中微粒种类包括球状微粒和片状微粒；在待测微粒为球状微粒的情况下，根据沉降高度确定待测微粒的粒度；在待测微粒为片状微粒的情况下，根据外观信息确定待测微粒的粒度。本发明可以提高微粒粒度测量的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 微粒 粒度 方法 装置 处理器 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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