[发明专利]测试指标确定方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202210751704.7 | 申请日： | 2022-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN115080436B | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 张国志;王瑀;姜金春 | 申请（专利权）人： | 中电金信软件有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 张筱宁;张海秀 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种测试指标确定方法、装置、电子设备及存储介质，涉及计算机技术领域。该方法包括：响应于接收到的测试请求，确定对应的待测试系统以及待测试内容；基于待测试系统的系统功能、应用系统架构的多个层级中每个层级所提供的服务和各层级之间自下而上的层级支撑关系，确定出与系统功能相匹配的至少一个待测试层级；将每个待测试层级的可用性测试指标以及应用系统架构的系统可用性指标确定为候选测试指标，基于待测试内容，从候选测试指标中确定出目标测试指标。本申请实施例结合了待测试系统的系统功能以及具体的待测试内容，可以全面地确定出与实际测试需求相对应的目标测试指标，更好地检测待测试系统的可用性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 指标 确定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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