[发明专利]一种阻变存储器总剂量辐射测试方法和装置在审
| 申请号： | 202211139602.6 | 申请日： | 2022-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN115547401A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 李雨佳;赵元富;王亮;李同德;张彦龙 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张丽筠 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及阻变存储器领域，具体公开了一种阻变存储器总剂量辐射测试方法，包括：将对多个阻变存储器进行分组，得到M组阻变存储器，每组阻变存储器包括N个阻变存储器，M组阻变存储器分别对应M个初始阻态；对M组阻变存储器进行总剂量辐射实验；对M组阻变存储器进行循环耐受性实验，循环耐受性实验的结果用于指示阻变存储器的与总剂量辐射相关的测试结果。通过该测试方法，可以模拟阻变存储器受到总剂量辐射后的耐受性变化，以对阻变存储器在总剂量辐射环境中的应用提供优化方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 剂量 辐射 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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