[发明专利]一种芯片仿真功能覆盖率检测方法、装置及检测系统在审
申请号: | 202211600188.4 | 申请日: | 2022-12-12 |
公开(公告)号: | CN115952762A | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | 赵立敏;王煜华;李林岳;杨笑冰 | 申请(专利权)人: | 爱芯元智半导体(上海)有限公司 |
主分类号: | G06F30/398 | 分类号: | G06F30/398;G06F115/12 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 吕爱霞 |
地址: | 201700 上海市青浦区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请提供一种芯片仿真功能覆盖率检测方法、装置及检测系统,其中检测方法包括:获取目标交叉仓需求,以及包含有若干第一功能覆盖点的第一功能覆盖点集合;基于目标交叉仓需求,构建包含有若干第二功能覆盖点的第二功能覆盖点集合;对第二功能覆盖点进行交叉操作,获得目标交叉仓;基于第一功能覆盖点集合和目标交叉仓,获取芯片仿真功能覆盖率。由于目标交叉仓采用正向交叉的方式进行交叉获得,目标交叉仓的生成效率较高,并且出错率较低,功能覆盖点的覆盖面更加全面,提高了芯片仿真功能覆盖率检测的效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 仿真 功能 覆盖率 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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