[发明专利]屏蔽系数的确定方法、装置、存储介质和电子设备在审
| 申请号： | 202211667632.4 | 申请日： | 2022-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN115980814A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 王祥丽;邵婕文;柏磊;王燕伶 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01T1/167 | 分类号： | G01T1/167 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 郑国敏 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种屏蔽系数的确定方法、装置、存储介质和电子设备，通过获取废物容器中的屏蔽介质的线性衰减系数；该线性衰减系数是通过预设线性衰减系数和该屏蔽介质的密度确定的系数；该废物容器中包括该屏蔽介质和放射性核素；该屏蔽介质用于吸收该放射性核素发出的射线；根据热点和该废物容器的半径确定该屏蔽介质的厚度；该热点表征该放射性核素在该废物容器中的位置；根据该线性衰减系数和该厚度确定该屏蔽系数。通过上述技术方案，无需明确废物容器内放射性核素的具体成分，同时提高了屏蔽介质的厚度值的精确性，以及，得到的屏蔽系数可以对放射源活度的测量结果进行修正，从而提高放射源活度的测量结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 屏蔽 系数 确定 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
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