[发明专利]适用于芯片检测的灵活比对方法和设备有效
| 申请号： | 202310045788.7 | 申请日： | 2023-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN115877185B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 王洲;唐晓楠;孙烨磊;李慧清;杨雷明;杨威;王春祥;邰阳;宋雨江;巴宁;岳文;韩亚;徐彦卿 | 申请（专利权）人： | 北京怀美科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京汇鑫君达知识产权代理有限公司 11769 | 代理人： | 刘湘菲 |
| 地址： | 101499 北京市怀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种适用于芯片检测的灵活比对方法及设备，包括：基于检测电路板，所述检测电路板包括与存储模块连接的数据处理模块、比对模块和至少一个待测芯片接口；所述方法包括：所述比对模块预设有算力阈值，所述比对模块根据当前算力值，选择待测芯片输出数据的比对地点和比对机制；和/或，所述比对模块预设有精度阈值，所述比对模块根据输入的精度值，选择待测芯片输出数据的比对地点和比对机制。根据比对模块的当前算力值及设置的精度值，选择不同的比对地点，在检测电路板的比对模块上比对时，不用将待测芯片输出数据传输到外部计算机，避免了因线材或接口的传输速率限制，而导致比对效率下降，使待测芯片检测更加灵活。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 芯片 检测 灵活 方法 设备 | ||
【主权项】：
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