[发明专利]基于FPGA预处理与改进YOLOv5的绝缘子缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202310487759.6 | 申请日： | 2023-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN116523875A | 公开（公告）日： | 2023-08-01 |
| 发明（设计）人： | 李兵;刘立卫;王梦楠;佐磊;尹柏强 | 申请（专利权）人： | 合肥工业大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/94;G06V10/30;G06V10/80;G06V10/774;G06V10/82;G06V20/17;G06V20/70;G06N3/045;G06N3/0464;G06N3/084 |
| 代理公司： | 合肥金安专利事务所(普通合伙企业) 34114 | 代理人： | 彭超 |
| 地址： | 230009 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于FPGA预处理与改进YOLOv5的绝缘子缺陷检测方法，方法步骤如下：获得绝缘子样本训练集和测试集；构建改进YOLOv5的绝缘子缺陷检测模型；待检测的绝缘子图像预处理；对绝缘子缺陷检测模型进行训练，获取待检测绝缘子缺陷图像的检测结果，将绝缘子缺陷检测模型训练的权重输入到绝缘子缺陷检测模型中，然后将预处理的绝缘子待检测图像输入到绝缘子缺陷检测模型，获得绝缘子缺陷图像检测结果。本发明利用FPGA高速并行数据处理能力，提高图像传输通讯效益，同时将软件去噪算法移植到FPGA上实现，快速降低噪声对绝缘子故障检测的干扰。然后采用一种高效的自学习权重的特征融合网络来改进的YOLOv5模型，实现对绝缘子缺陷的准确、快速地检测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga 预处理 改进 yolov5 绝缘子 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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