[发明专利]功耗分析方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310826517.5 | 申请日： | 2023-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN116842883A | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 陈普凡;蔡泽鉴;唐辉艳 | 申请（专利权）人： | 平头哥（上海）半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/337 | 分类号： | G06F30/337;G06F119/06 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人： | 李杰;闫喜鹏 |
| 地址： | 201208 上海市浦东新区中国（上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请实施例提供了一种功耗分析方法、装置、电子设备及存储介质，该功耗分析方法包括：根据待分析芯片的门级网表和波形信息，获得翻转信息，其中，波形信息用于指示待分析芯片中晶体管的运行状态，翻转信息用于指示基于波形信息待分析芯片中发生翻转的晶体管；根据门级网表和翻转信息，从待分析芯片包括的时序路径中确定关键时序路径，其中，关键时序路径包括的至少部分晶体管基于波形信息发生过翻转；生成包括关键时序路径的功耗分析结果。基于本方案提供的功耗分析结果可以更有针对性的对待分析芯片的架构设计进行优化，以提高基于功耗分析结果对待分析芯片进行优化的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 功耗 分析 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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