[发明专利]电子元器件的选用安全性评估方法、装置、设备和介质在审

专利信息
申请号: 202310891159.6 申请日: 2023-07-19
公开(公告)号: CN116957333A 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 丁春光;沈佳塔;徐永亮;赖冠宏;胡宁 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G06Q10/0635 分类号: G06Q10/0635;G06Q30/0282
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 唐彩琴
地址: 511370 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请涉及一种电子元器件的选用安全性评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括:响应于携带有电子元器件的标识信息的评估请求,获取相应电子元器件的供货状态、备件风险等级、数量供应风险等级、数量风险信息以及电子元器件的可替代程度;根据电子元器件的供货状态,确定电子元器件对应的寿命风险数值、预期寿命和实际寿命,以确定针对电子元器件的第一风险值;根据备件风险等级和电子元器件的可替代程度,确定针对电子元器件的第二风险值;根据数量供应风险等级和数量风险信息,确定针对电子元器件的第三风险值,以对电子元器件进行评估。采用本方法能够提高了电子元器件的选用安全性评估的准确率。
搜索关键词: 电子元器件 选用 安全性 评估 方法 装置 设备 介质
【主权项】:
暂无信息
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