[发明专利]电解电容老化方法、系统及自动老化机

权利要求书

1.一种电解电容老化方法，应用于自动老化机，其特征在于，所述电解电容老化方法包括：

步骤S10，接收到进料指令后，控制所述自动老化机的老化夹具进料，并控制所述自动老化机增大电流对老化夹具上的多个所述电解电容进行排短；

步骤S20，在对多个电解电容进行排短后，控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化；

步骤S30，在对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后，控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化；

步骤S40，在对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后，控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化；

步骤S50，在对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后，控制所述自动老化机的老化夹具出料；

所述自动老化机还包括电压检测电路和辅助老化电路，所述步骤S20包括：

步骤S21，在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后，并控制所述自动老化机的电压检测电路对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温检测，以及控制所述自动老化机的辅助老化电路对老化夹具上的多个电解电容第一辅助老化；

步骤S22，在对老化夹具上的多个电解电容第一辅助老化后，控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第二排短处理。

2.如权利要求1所述的电解电容老化方法，其特征在于，所述自动老化机包括排短电路，所述步骤S10包括：

步骤S11，接收到进料指令后，控制所述自动老化机的老化夹具进料；

步骤S12，在对老化夹具上的多个所述电解电容更换后，控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第一排短处理。

3.如权利要求1所述的电解电容老化方法，其特征在于，所述步骤S30包括：

步骤S31，在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后，并控制所述自动老化机的电压检测电路对老化夹具上的多个电解电容进行高温检测，以及控制所述自动老化机的辅助老化电路对老化夹具上的多个电解电容第二辅助老化；

步骤S32，在对老化夹具上的多个电解电容第二辅助老化后，控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第三排短处理。

4.如权利要求3所述的电解电容老化方法，其特征在于，所述步骤S40包括：

在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后，并控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行过电压冲击及交流叠加冲击。

5.一种电解电容老化系统，应用于自动老化机，其特征在于，所述电解电容老化系统包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电解电容老化程序，所述电解电容老化程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至4中任意一项所述的电解电容老化方法的步骤。

6.如权利要求5所述的电解电容老化系统，其特征在于，所述电解电容老化系统包括：

电容进料单元，接收到进料指令后，控制多个所述电解电容装配到自动老化机的老化夹具上，并控制所述自动老化机增大电流对多个所述电解电容进行排短；

第一常温老化单元，在对多个电解电容进行排短后，控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化；

高温老化单元，在对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后，控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化；

第二常温老化单元，在对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后，控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化；

放电测试单元，在对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后，控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行放电测试。

7.如权利要求6所述的电解电容老化系统，其特征在于，所述老化夹具上的电解电容数量范围为50-200个。

8.一种自动老化机，其特征在于，所述自动老化机包括老化夹具、以及如权利要求6至7任意一项所述的电解电容老化系统；其中，

所述老化夹具包括正极滑槽和负极滑槽，用于将多个电解电容的正负极整排对应放置，且多个所述电解电容相邻设置。