[发明专利]用于对样本块进行滤波的方法、装置和存储介质有效

专利信息
申请号: 202210494388.X 申请日: 2018-09-27
公开(公告)号: CN114979634B 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: C·吉斯科特;乔纳森·泰奎特;P·乌诺;G·拉罗彻 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H04N19/117 分类号: H04N19/117;H04N19/82;H04N19/182;H04N19/176;H04N19/86;H04N19/14;H04N19/124
代理公司: 北京魏启学律师事务所 11398 代理人: 魏启学
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 样本 进行 滤波 方法 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种用于对图像的样本块进行滤波的方法,所述方法包括:

基于第二参数tc’的值来获得第一参数tc的值;以及

通过使用所述第一参数tc的值对所述样本块中的样本进行去块滤波来对该块进行滤波,其中滤波后的样本值由基于所述第一参数tc的值的范围来限定,

其中,获得所述第一参数tc的值包括:

基于所述样本块的量化参数来获得所述第二参数tc’的值;以及

通过将所述第二参数tc’的值与偏移相加并使该相加的结果向右移位了N位来获得所述第一参数tc的值,其中N依赖于所述图像的位深度,其中所述偏移依赖于所述图像的位深度。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,用于获得所述第一参数tc的值的表达式是通过以下给出的:tc=(tc’+R(BitDepth))f(BitDepth),其中BitDepth是所述样本块的样本的位深度。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第二参数tc’的值是从将第二参数tc’的值与量化参数值相关联的表获得的。

4.一种用于对图像的样本块进行滤波的装置,所述装置包括:

用于基于第二参数tc’的值来获得第一参数tc的值的部件;以及

用于通过使用所述第一参数tc的值对所述样本块中的样本进行去块滤波来对该块进行滤波的部件,其中滤波后的样本值由基于所述第一参数tc的值的范围来限定,

其中,进行获得的部件被配置为通过以下操作来获得所述第一参数tc的值:

基于所述样本块的量化参数来获得所述第二参数tc’的值;以及

通过将所述第二参数tc’的值与偏移相加并使该相加的结果向右移位了N位来获得所述第一参数tc的值,其中N依赖于所述图像的位深度,其中所述偏移依赖于所述图像的位深度。

5.一种计算机可读存储介质,其包含计算机可执行指令,所述计算机可执行指令使得计算机进行用于对图像的样本块进行滤波的方法,所述方法包括:

基于第二参数tc’的值来获得第一参数tc的值;以及

通过使用所述第一参数tc的值对所述样本块中的样本进行去块滤波来对该块进行滤波,其中滤波后的样本值由基于所述第一参数tc的值的范围来限定,

其中,获得所述第一参数tc的值包括:

基于所述样本块的量化参数来获得所述第二参数tc’的值;以及

通过将所述第二参数tc’的值与偏移相加并使该相加的结果向右移位了N位来获得所述第一参数tc的值,其中N依赖于所述图像的位深度,其中所述偏移依赖于所述图像的位深度。

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