[发明专利]一种对建筑、城市空间进行精确测量的粒子图像测速方法无效

专利信息
申请号: 200710038309.X 申请日: 2007-03-22
公开(公告)号: CN101021429A 公开(公告)日: 2007-08-22
发明(设计)人: 项秉仁;杨丽 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00;G01M19/00;G01P3/36;G01P5/26;G01P13/02
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 代理人: 吴宝根
地址: 200092上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种对建筑、城市空间进行精确测量的粒子图像测速方法,特点是,方法步骤为:建立一建筑、城市空间的模拟结构,按比例将其缩小在一固定流场内;向流场内吹入自然风,即示踪粒子;通过片光源系统照亮测量区域,使图像拍摄系统记录下示踪粒子的位置;通过CCD相机拍摄,得出所有示踪粒子的平均速度以及示踪粒子的图像信息;综合整理在建筑、城市空间模拟结构实验中所得出的示踪粒子的位置、平均速度以及图像信息,测试出在模拟的城市空间环境中,城市风向随着建筑物的影响而发生改变的情况,得出具体的风向数据图。本发明是通过粒子图像测速即PIV测速方法,对建筑、城市空间进行精确测量,能满足综合性的基础空间信息生产的要求。
搜索关键词: 一种 建筑 城市 空间 进行 精确 测量 粒子 图像 测速 方法
【主权项】:
1.一种对建筑、城市空间进行精确测量的粒子图像测速方法,其特征在于,方法的具体步骤为:1)建立一建筑、城市空间的模拟结构,按照比例将其缩小在一固定流场内;2)向流场内吹入自然风,即示踪粒子;3)通过片光源系统来照亮测量区域,能够使示踪粒子产生散射光,使图像拍摄系统记录下示踪粒子的位置;4)通过CCD相机的图像拍摄,获得示踪粒子两次曝光间隔内的位移,得出所有示踪粒子的平均速度以及示踪粒子的图像信息;5)综合整理在建筑、城市空间模拟结构实验中所得出的示踪粒子的位置、平均速度以及图像信息,来测试出在模拟的城市空间环境中,城市风向随着建筑物的影响而发生改变的情况,得出具体的风向数据图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同济大学,未经同济大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710038309.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top