[发明专利]一种对建筑、城市空间进行精确测量的粒子图像测速方法无效
申请号: | 200710038309.X | 申请日: | 2007-03-22 |
公开(公告)号: | CN101021429A | 公开(公告)日: | 2007-08-22 |
发明(设计)人: | 项秉仁;杨丽 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | G01D21/00 | 分类号: | G01D21/00;G01M19/00;G01P3/36;G01P5/26;G01P13/02 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人: | 吴宝根 |
地址: | 200092上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种对建筑、城市空间进行精确测量的粒子图像测速方法,特点是,方法步骤为:建立一建筑、城市空间的模拟结构,按比例将其缩小在一固定流场内;向流场内吹入自然风,即示踪粒子;通过片光源系统照亮测量区域,使图像拍摄系统记录下示踪粒子的位置;通过CCD相机拍摄,得出所有示踪粒子的平均速度以及示踪粒子的图像信息;综合整理在建筑、城市空间模拟结构实验中所得出的示踪粒子的位置、平均速度以及图像信息,测试出在模拟的城市空间环境中,城市风向随着建筑物的影响而发生改变的情况,得出具体的风向数据图。本发明是通过粒子图像测速即PIV测速方法,对建筑、城市空间进行精确测量,能满足综合性的基础空间信息生产的要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 建筑 城市 空间 进行 精确 测量 粒子 图像 测速 方法 | ||
【主权项】:
1.一种对建筑、城市空间进行精确测量的粒子图像测速方法,其特征在于,方法的具体步骤为:1)建立一建筑、城市空间的模拟结构,按照比例将其缩小在一固定流场内;2)向流场内吹入自然风,即示踪粒子;3)通过片光源系统来照亮测量区域,能够使示踪粒子产生散射光,使图像拍摄系统记录下示踪粒子的位置;4)通过CCD相机的图像拍摄,获得示踪粒子两次曝光间隔内的位移,得出所有示踪粒子的平均速度以及示踪粒子的图像信息;5)综合整理在建筑、城市空间模拟结构实验中所得出的示踪粒子的位置、平均速度以及图像信息,来测试出在模拟的城市空间环境中,城市风向随着建筑物的影响而发生改变的情况,得出具体的风向数据图。
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