[发明专利]高压集成电路的dV/dt耐量测试装置及其测试方法有效
| 申请号： | 200910157172.9 | 申请日： | 2009-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN102109573A | 公开（公告）日： | 2011-06-29 |
| 发明（设计）人： | 冯宇翔;王文建;洪益文;邱学海 | 申请（专利权）人： | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/303 | 分类号： | G01R31/303 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310012 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了高压集成电路的dV/dt耐量测试装置，包括触发电路和被测高压集成电路，被测高压集成电路包括VCC脚、GND脚、VB脚、VS脚和HOUT脚，HOUT脚电平置高，所述触发电路调节被测高压集成电路GND脚和VS脚间的dV/dt，若HOUT脚电平发生变化被置低，则被测高压集成电路GND脚和VS脚间的dV/dt超出范围，得出此时被测高压集成电路的VS脚对GND脚电压变化的变化量dV和变化所用的时间dt，从而计算出VS脚对GND脚的dV/dt值。本发明在不改变被测高压集成电路工作条件的情况下，测试出高压集成电路的dV/dt耐量范围，同时本发明防止因超过耐量时对测试设备造成的损坏。 | ||
| 搜索关键词： | 高压 集成电路 dv dt 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
高压集成电路dV/dt耐量测试装置，其特征在于包括触发电路和被测高压集成电路：所述被测高压集成电路包括VCC脚、GND脚、VB脚、VS脚和HOUT脚，HOUT脚电平置高，所述触发电路调节被测高压集成电路GND脚和VS脚间的dV/dt。
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