[发明专利]集成电路在审

专利信息
申请号: 201811265404.8 申请日: 2018-10-29
公开(公告)号: CN110783338A 公开(公告)日: 2020-02-11
发明(设计)人: 廖忠志 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;H01L27/02;H01L29/10;H01L29/423;H01L29/78
代理公司: 11006 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 集成电路。一种静态随机存取记忆体单元包含第一至第五介电鳍片,其沿第一方向依序设置并以第二方向为长度方向,第一及第五介电鳍片定义静态随机存取记忆体单元的两边缘;第一N型半导体鳍片,设置于第一及第二介电鳍片之间;第二N型半导体鳍片,设置于第四及第五介电鳍片之间;第一P型半导体鳍片,设置于第二及第三介电鳍片之间;第二P型半导体鳍片,设置于第三及第四介电鳍片之间,每个第一及第二N型半导体鳍片以及每个第一及第二P型半导体鳍片以第二方向为长度方向;以及栅极结构,以第一方向为长度方向设置,栅极结构接合一或多个介电鳍片。
搜索关键词: 鳍片 介电 栅极结构 静态随机存取记忆体 长度方向设置 随机存取记忆 定义静态 体单元 集成电路
【主权项】:
1.一种集成电路,其特征在于,包含:/n一第一静态随机存取记忆体(SRAM)单元,以一第一方向为该第一SRAM单元的长度方向且以一第二方向为该第一SRAM单元的宽度方向,其中该第二方向大致垂直于该第一方向,其中该第一SRAM单元包含:/n一第一介电鳍片、一第二介电鳍片、一第三介电鳍片、一第四介电鳍片以及一第五介电鳍片,沿该第一方向依序设置并以该第二方向为该第一至第五介电鳍片的长度方向设置,其中该第一与第五介电鳍片定义该第一SRAM单元的二个侧边;/n一第一P型半导体鳍片,设置于该第一及第二介电鳍片之间;/n一第二P型半导体鳍片,设置于该第四及第五介电鳍片之间;/n一第一N型半导体鳍片,设置于该第二及第三介电鳍片之间;/n一第二N型半导体鳍片,设置于该第三及第四介电鳍片之间,其中每该第一及第二P型半导体鳍片以及每该第一及第二N型半导体鳍片以该第二方向为长度方向设置;以及/n多个栅极结构,以该第一方向为所述多个栅极结构的长度方向设置,其中所述多个栅极结构沿该第二方向分隔开来,其中所述多个栅极结构接合该第一至第五介电鳍片、该第一及第二N型半导体鳍片以及该第一及第二P型半导体鳍片的一或多个。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811265404.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
  • 集成电路结构-201610641063.4
  • 廖忠志 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2016-08-08 - 2020-02-14 - H01L27/11
  • 本发明提供一种集成电路,包括一SRAM阵列。SRAM阵列包括具有第一多行以及多列的SRAM单元的一第一子阵列以及具有第二多行以及多列的SRAM单元的一第二子阵列。第一位元线以及第一互补位元线连接至第一子阵列中的一列的第一以及第二沟道栅极金属氧化物半导体装置。第二位元线以及第二互补位元线连接至第二子阵列中的一列的静态随机存取存储器单元的第一以及第二沟道栅极金属氧化物半导体装置。第一位元线以及第一互补位元线与第二位元线以及第二互补位元线断开。感测放大器电路电性耦接至并用以感测第一位元线、第一互补位元线、第二位元线以及第二互补位元线。
  • 集成电路-201811265404.8
  • 廖忠志 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2018-10-29 - 2020-02-11 - H01L27/11
  • 集成电路。一种静态随机存取记忆体单元包含第一至第五介电鳍片,其沿第一方向依序设置并以第二方向为长度方向,第一及第五介电鳍片定义静态随机存取记忆体单元的两边缘;第一N型半导体鳍片,设置于第一及第二介电鳍片之间;第二N型半导体鳍片,设置于第四及第五介电鳍片之间;第一P型半导体鳍片,设置于第二及第三介电鳍片之间;第二P型半导体鳍片,设置于第三及第四介电鳍片之间,每个第一及第二N型半导体鳍片以及每个第一及第二P型半导体鳍片以第二方向为长度方向;以及栅极结构,以第一方向为长度方向设置,栅极结构接合一或多个介电鳍片。
  • 具有处理器和静态随机存取存储器的键合半导体器件及其形成方法-201980002022.2
  • 刘峻 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-09-11 - 2020-02-07 - H01L27/11
  • 公开了半导体器件的实施例及其制造方法。在示例中,一种半导体器件,包括:第一半导体结构,包括处理器和第一键合层,所述第一键合层包括多个第一键合接触部。所述半导体器件还包括第二半导体结构,所述第二半导体结构包括静态随机存取存储器(SRAM)单元的阵列和第二键合层,所述第二键合层包括多个第二键合接触部。所述半导体器件还包括键合界面,所述键合界面在所述第一键合层和所述第二键合层之间。所述第一键合接触部在所述键合界面处与所述第二键合接触部接触。
  • 集成电路结构-201610643550.4
  • 廖忠志 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2016-08-08 - 2020-02-04 - H01L27/11
  • 本公开涉及一种具有静态随机存取存储器的一种集成电路结构,包括第一与第二上拉金氧半导体装置,及与第一及第二上拉金氧半导体装置形成交错栓锁反相器的第一与第二下拉金氧半导体装置。第一金属层,位于静态随机存取存储器内的金氧半导体装置的栅极电极上。此结构还包括第一金属层与CVss着陆接垫,其中CVss着陆接垫具有位于静态随机存取存储器内的一部。CVss着陆接垫位于第一金属层上的第二金属层内。第一字元线,位于第二金属层内。CVss导线,位于第二金属层上的第三金属层内。CVss导线电性连接于该CVss着陆接垫。
  • 用于SRAM和寄存器文件位单元的均匀布局-201780091106.9
  • Z·郭;C·L·翁;E·A·卡尔;M·T·博尔 - 英特尔公司
  • 2017-06-22 - 2020-01-17 - H01L27/11
  • 本公开描述了用于SRAM和寄存器文件位单元的均匀布局。在示例中,一种集成电路结构包括衬底上的六晶体管(6T)静态随机存取存储器(SRAM)位单元。该6T SRAM位单元包括沿衬底的第一方向平行的第一有源区和第二有源区。第一栅极线、第二栅极线、第三栅极线和第四栅极线在第一有源区和第二有源区上方,第一栅极线、第二栅极线、第三栅极线和第四栅极线沿衬底的第二方向平行,第二方向垂直于第一方向。
  • 静态随机存取存储器-201610738830.3
  • 廖忠志 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2016-08-26 - 2020-01-10 - H01L27/11
  • 本发明的实施例提供了一种SRAM单位单元,包括第一至第四鳍结构。第一FinFET由第一栅电极和第一鳍结构形成。第二FinFET由第二栅电极和第一鳍结构形成。第三FinFET由第二栅电极和第三鳍结构形成。第四FinFET由第三栅电极和第二鳍结构形成。第五FinFET由第四栅电极和第二鳍结构形成。第六FinFET由第四栅电极和第四鳍结构形成。第一伪鳍结构位于邻近第二FinFET的位置处并且电连接至第一鳍结构。第二伪鳍结构位于邻近第五FinFET的位置处并且电连接至第二鳍结构。本发明的实施例还提供了一种静态随机存取存储器。
  • 半导体结构及其制造方法-201610407359.X
  • 周飞 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2016-06-12 - 2019-12-31 - H01L27/11
  • 一种半导体结构及其制造方法,所述方法包括:提供基底,基底包括衬底、以及凸出于衬底的鳍部,衬底包括第一区域和第二区域,第一区域和第二区域用于形成不同类型的晶体管;形成覆盖鳍部顶部和侧壁的栅介质层;在第一区域和第二区域交界处的栅介质层上形成阻挡层,阻挡层至少覆盖交界处第二区域的栅介质层;在第二区域的栅介质层和阻挡层上形成第二功函数层;在第一区域的栅介质层上形成第一功函数层。本发明先在第一区域和第二区域交界处的栅介质层上形成阻挡层,阻挡层至少覆盖交界处第二区域的栅介质层,所述阻挡层可以减小第一功函数层中的金属离子在第二功函数层中的扩散程度,从而可以避免对第二功函数层的性能造成不良影响。
  • 静态随机存取记忆体元件-201910133498.1
  • 廖忠志 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2019-02-22 - 2019-12-10 - H01L27/11
  • 本申请提供一种静态随机存取记忆体元件。在一实施方式中,静态随机存取记忆体元件包含第一传输栅极场效晶体管(FET)和第一上拉场效晶体管,形成于第一N型井区域(N‑Well)中的至少一硅锗鳍片之上;第二传输栅极场效晶体管和第二上拉场效晶体管形成于第二N型井区域中的至少一硅锗鳍片之上;第一下拉场效晶体管形成于介于第一和第二N型井区域之间的P型井(P‑well)区域中的数个硅鳍片的其中一个之上;以及第二下拉场效晶体管形成于P型井区域中的数个硅鳍片的另一个之上。
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top