[发明专利]物理量传感器和半导体器件有效

专利信息
申请号: 201910112771.2 申请日: 2019-02-13
公开(公告)号: CN110176435B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 黑川景亮;马渡和明 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L23/24;H01L23/31
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 林金朝;王英
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种物理量传感器,包括:传感器芯片(3),具有输出对应于物理量的信号的传感器部分;支撑构件(1),传感器芯片安装到其上;粘合层(2),设置在支撑构件的侧面(1a)上,所述粘合层支撑传感器芯片;以及导线(4),在传感器芯片的侧面(3a)上电连接到传感器芯片,传感器芯片的侧面与粘合层相对。本文的粘合层包括表现出膨胀特性的材料,其中,随着剪切速率增大,剪切应力以多维函数增大。
搜索关键词: 物理量 传感器 半导体器件
【主权项】:
1.一种物理量传感器,包括:传感器芯片(3),所述传感器芯片具有输出对应于物理量的信号的传感器部分;支撑构件(1),所述传感器芯片安装到所述支撑构件;粘合层(2),所述粘合层设置在所述支撑构件的侧面(1a)上,所述粘合层支撑所述传感器芯片;以及导线(4),所述导线在所述传感器芯片的侧面(3a)上电连接到所述传感器芯片,所述传感器芯片的所述侧面与所述粘合层相对,其中,所述粘合层包括表现出膨胀特性的材料,其中,随着剪切速率增大,剪切应力以多维函数增大。
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