[发明专利]测定流注电子密度时空演化的超材料聚焦天线有效

专利信息
申请号: 201910955199.6 申请日: 2019-10-09
公开(公告)号: CN112636004B 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 陈兆权;张明;吴金芳;张煌;张三阳 申请(专利权)人: 安徽工业大学
主分类号: H01Q19/08 分类号: H01Q19/08;H01Q15/00;H01Q15/02;H01Q13/02;H05H1/00
代理公司: 安徽顺超知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34120 代理人: 谢永
地址: 243002 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了超材料聚焦天线技术领域的测定流注电子密度时空演化的超材料聚焦天线,包括平面介质透镜阵列、超材料金属单元、聚焦透镜、介质打孔单元和喇叭天线,喇叭天线输出微波散射信号,平面介质透镜阵列将信号转为平面波输出,再通过在平面介质透镜阵列和聚焦天线之间的超材料金属单元和聚焦透镜将平面波聚焦成单一的波束,从而实现发射阵列天线的高增益和高空间合成效率;本发明通过在平面介质透镜均匀打空气通孔,实现对圆极化喇叭天线发射电磁波的相位补偿作用,达到提高其增益和定向性的目的。在平面介质透镜和聚焦透镜之间加超材料金属单元,会聚形成单一的波束,从而实现天线的高增益和高空间合成效率。
搜索关键词: 测定 流注 电子密度 时空 演化 材料 聚焦 天线
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