[发明专利]使用沟道化的原位角度测量在审
申请号: | 202180024726.7 | 申请日: | 2021-03-05 |
公开(公告)号: | CN115335954A | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
发明(设计)人: | 法兰克·辛克莱;乔纳森·吉罗德·英格兰;约瑟·C·欧尔森 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | H01J37/244 | 分类号: | H01J37/244;H01J37/08;H01J37/20 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 贺财俊;黄健 |
地址: | 美国加州圣塔克*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 公开一种能够测量离子束(特别是包括较重离子的离子束)的入射角度的系统及方法。在一个实施例中,使用X射线而不是离子来确定沟道化方向。在另一实施例中,工件至少部分由具有高分子量的材料构造而成,使得可测量较重离子束。此外,在另一实施例中,在整个束上测量离子束的参数,从而使得离子植入系统的组件能够被进一步调整以形成更均匀的束。 | ||
搜索关键词: | 使用 沟道 原位 角度 测量 | ||
【主权项】:
暂无信息
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