[发明专利]使用沟道化的原位角度测量在审

专利信息
申请号: 202180024726.7 申请日: 2021-03-05
公开(公告)号: CN115335954A 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 法兰克·辛克莱;乔纳森·吉罗德·英格兰;约瑟·C·欧尔森 申请(专利权)人: 应用材料股份有限公司
主分类号: H01J37/244 分类号: H01J37/244;H01J37/08;H01J37/20
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 贺财俊;黄健
地址: 美国加州圣塔克*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开一种能够测量离子束(特别是包括较重离子的离子束)的入射角度的系统及方法。在一个实施例中,使用X射线而不是离子来确定沟道化方向。在另一实施例中,工件至少部分由具有高分子量的材料构造而成,使得可测量较重离子束。此外,在另一实施例中,在整个束上测量离子束的参数,从而使得离子植入系统的组件能够被进一步调整以形成更均匀的束。
搜索关键词: 使用 沟道 原位 角度 测量
【主权项】:
暂无信息
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