[发明专利]一种通过图像识别技术测量统计材料晶粒尺寸的方法在审
| 申请号： | 202310218145.8 | 申请日： | 2023-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN116165233A | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 倪雨朦;周子尧;周文豪;高江雄 | 申请（专利权）人： | 株洲华锐精密工具股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2251 | 分类号： | G01N23/2251;G06V10/426;G01B15/00;G06V10/22;G06V20/69 |
| 代理公司： | 湖南正则奇美专利代理事务所(普通合伙) 43105 | 代理人： | 李猛 |
| 地址： | 412000 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种通过图像识别技术测量统计材料晶粒尺寸的方法，涉及材料表征技术领域；该方法包括以下步骤：S1、制得待测材料扫描电镜图；S2、调整扫描电镜图的对比度和锐化度，制得第一图片；S3、将第一图片数字化处理，收集第一图片中像素RGB数据；S4、将步骤S3中所得RGB数据调整为B1G1R1后，输出第二图像；S5、采用OpenCV内置库函数在第二图像上绘制半透明线段，并得到交点坐标；S6、利用晶界尺寸计算公式和交点坐标统计晶界尺寸，从而得到晶体尺寸数据。本发明将传统的电镜测试结果与人工智能相结合，通过计算机程序对扫描电镜图像进行处理并写入截距测量法，实现了对材料晶粒尺寸的快速识别与测量统计。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通过 图像 识别 技术 测量 统计 材料 晶粒 尺寸 方法 | ||
【主权项】：
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