[发明专利]一种功率碳化硅开关器件损耗特性的测试方法在审
| 申请号： | 202310863194.7 | 申请日： | 2023-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN116930707A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 徐真;王寒节;李银银;周训平;李可欣 | 申请（专利权）人： | 湖北德普电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京深川专利代理事务所(普通合伙) 16058 | 代理人： | 陈彬茜 |
| 地址： | 441000 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种功率碳化硅开关器件损耗特性的测试方法，具体包括以下步骤：S1、设定直流供电模块的目标输出电压值、目标温度值和目标测试电流值，并通过测量模块检测被测单元的直流母线电压、温度状态和负载电流，S2、生成时间‑电流‑温度曲线图，S3、生成时间‑电压‑温度曲线图，S4、电流测试，S5、电压测试，本发明涉及电气测试技术领域。该功率碳化硅开关器件损耗特性的测试方法，可实现在测试过程中直接生成连续型测试曲线图，来供测试人员快速分析测试结果，很好的达到了既快速又方便进行测试的目的，通过采用连续式测试方法，来大大简化了测试方法，且测试结果更加直观，无需测试人员花费大量的时间进行测试结果的分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 碳化硅 开关 器件 损耗 特性 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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