[发明专利]一种干涉仪测向结果质量评估方法、设备及介质在审

专利信息
申请号: 202211140550.4 申请日: 2022-09-20
公开(公告)号: CN115598584A 公开(公告)日: 2023-01-13
发明(设计)人: 杨启伦;沈路;杜冶;张续莹;李延飞;左园 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
主分类号: G01S3/02 分类号: G01S3/02;G01S3/14
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 管高峰
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 干涉仪 测向 结果 质量 评估 方法 设备 介质
【权利要求书】:

1.一种干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1.利用测向的方位和基线长度进行理论相位差的反向计算;

S2.基于各个基线的真实测量相位差与理论相位差的差值,通过信噪比和天线基线设计时的最大相位差容差计算门限值,再通过所述差值与门限值的关系获得各个基线的测向结果质量评估;

S3.对各个基线的测向结果质量评估数据通过相乘进行结果融合,得到最终的干涉仪测向结果质量评估。

2.根据权利要求1所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,步骤S1中,理论相位差的反向计算公式为:

其中,dn为第n个天线的基线长度,fc为信号载频,θ为测向结果,c为光速。

3.根据权利要求2所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,步骤S1还包括基于理论相位差计算折叠在360°以内的理论相位差其计算公式为:

其中,表示向下取整运算。

4.根据权利要求3所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,步骤S2中,测量相位差与理论相位差的差值为:

其中,| |表示绝对值运算。

5.根据权利要求4所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,步骤S2还包括基于差值计算折叠在360°以内的差值其计算公式为:

6.根据权利要求5所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,基于信噪比SNR计算由于噪声引起的最大相位差偏差:

7.根据权利要求6所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,基于差值和噪声引起的最大相位差偏差Φtheory计算各个基线的测向结果质量:

其中,max{Φtheorythres}表示在噪声引起的最大相位偏差Φtheory与天线基线设计时的最大相位差容差Φthres二者中取大。

8.根据权利要求7所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,步骤S3中,对各个基线的测向结果质量进行相乘,获得干涉仪测向结果质量的综合评估结果:

Cfidtotal=Cfid1·Cfid2…CfidN

9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-8任一项所述的干涉仪测向结果质量评估方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-8任一项所述的干涉仪测向结果质量评估方法的步骤。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第二十九研究所,未经中国电子科技集团公司第二十九研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211140550.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top