[发明专利]一种干涉仪测向结果质量评估方法、设备及介质在审
申请号: | 202211140550.4 | 申请日: | 2022-09-20 |
公开(公告)号: | CN115598584A | 公开(公告)日: | 2023-01-13 |
发明(设计)人: | 杨启伦;沈路;杜冶;张续莹;李延飞;左园 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
主分类号: | G01S3/02 | 分类号: | G01S3/02;G01S3/14 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 管高峰 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 干涉仪 测向 结果 质量 评估 方法 设备 介质 | ||
1.一种干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1.利用测向的方位和基线长度进行理论相位差的反向计算;
S2.基于各个基线的真实测量相位差与理论相位差的差值,通过信噪比和天线基线设计时的最大相位差容差计算门限值,再通过所述差值与门限值的关系获得各个基线的测向结果质量评估;
S3.对各个基线的测向结果质量评估数据通过相乘进行结果融合,得到最终的干涉仪测向结果质量评估。
2.根据权利要求1所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,步骤S1中,理论相位差的反向计算公式为:
其中,dn为第n个天线的基线长度,fc为信号载频,θ为测向结果,c为光速。
3.根据权利要求2所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,步骤S1还包括基于理论相位差计算折叠在360°以内的理论相位差其计算公式为:
其中,表示向下取整运算。
4.根据权利要求3所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,步骤S2中,测量相位差与理论相位差的差值为:
其中,| |表示绝对值运算。
5.根据权利要求4所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,步骤S2还包括基于差值计算折叠在360°以内的差值其计算公式为:
6.根据权利要求5所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,基于信噪比SNR计算由于噪声引起的最大相位差偏差:
7.根据权利要求6所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,基于差值和噪声引起的最大相位差偏差Φtheory计算各个基线的测向结果质量:
其中,max{Φtheory,Φthres}表示在噪声引起的最大相位偏差Φtheory与天线基线设计时的最大相位差容差Φthres二者中取大。
8.根据权利要求7所述的干涉仪测向结果质量评估方法,其特征在于,步骤S3中,对各个基线的测向结果质量进行相乘,获得干涉仪测向结果质量的综合评估结果:
Cfidtotal=Cfid1·Cfid2…CfidN。
9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-8任一项所述的干涉仪测向结果质量评估方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-8任一项所述的干涉仪测向结果质量评估方法的步骤。
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