[发明专利]一种粉末图的指标化方法无效
| 申请号： | 02154469.7 | 申请日： | 2002-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN1508537A | 公开（公告）日： | 2004-06-30 |
| 发明（设计）人： | 胡祖树;王国富;林州斌;张莉珍 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N23/207 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 350002福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用计算机VB语言将粉末图指标化方法编成程序，在计算机上运行，减少了大量的计算工作，只需输入d0和相关参数就可得到对应的晶面指数(HKL)。该方法可应用于物质结构研究领域，尤其是材料研究、矿物研究、X射线物相分析、晶体定向等研究领域。该方法适用于任何点阵的物质，适用性强。本方法在Windows操作系统下工作，操作方便简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粉末 指标化 方法 | ||
【主权项】：
1.一种粉末图的指标化方法，其特征在于，该方法采用计算机进行指标化，用计算机VB程序语言，在Windows操作系统下工作，其包括登录、参数输入、计算处理、结果的显示输出以及程序的退出几个步骤：(1)在登录模块的设计中采用密码登录，只有当口令正确时，登录才会成功；(2)在输入模块中只需用鼠标或键盘Tab键将光标移到对应的空格里按自己的要求灵活机动的输入对应的参数，同时对参数的类型也作了规定，当输入参数有误时，程序会及时给予提醒，在7种不同点阵的输入设置中采用下拉式菜单，只需下拉菜单选中即可；(3)在输入完参数后只需按确认键即可进入运行处理阶段，同时设置了返回键，便于及时对输入的参数进行修改，更方便于运行处理；(4)对指标化结果的处理，可将结果以文档形式保存，同时又可直接用打印机打印输出，方便选择；(5)在退出部分，只需按退出键即可。
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- 2018-06-27 - 2023-10-17 - G01N23/20008
- 本发明涉及X射线探测器和控制X射线探测器的技术。提供了一种用在用于测量由待研究样品衍射的X射线束的X射线分析系统中的X射线探测器。X射线探测器包括：至少两个彼此铰接连接的X射线探测器模块；驱动机构，配置成将所述至少两个铰接连接的X射线模块定位在样品周围；控制单元，配置成控制驱动机构以相对于彼此移动所述至少两个探测器模块，使得所述至少两个探测器模块沿着具有取决于探测器和样品之间的选定距离的曲率的预先计算的曲线布置在样品周围。还提供了一种包括上述X射线探测器的X射线分析系统和一种控制X射线探测器的方法。
- 一种XRD制样夹具-202320923081.7
- 武文佼;唐煜;杨佳悦;张朝阳;孔梓茗;邓涛;徐彦;王斌 - 新乡学院
- 2023-04-21 - 2023-10-17 - G01N23/2005
- 本申请提供一种XRD制样夹具，涉及XRD测试技术领域。XRD制样夹具包括载物台，载物台上开设有样品槽，还包括安装组件以及设置于安装组件上的支撑组件以及直线驱动组件，载物台可拆卸固定连接于安装组件上，支撑组件安装于样品槽的上方，直线驱动组件包括螺杆以及定位套筒，定位套筒固定连接于安装组件上，支撑组件安装于定位套筒内并通过定位组件与定位套筒竖直滑动连接，支撑组件内部开设螺纹孔，螺杆螺纹连接于螺纹孔内，使得螺杆转动驱动支撑组件在定位套筒内竖直升降。本申请提供的XRD制样夹具，能够根据样品的厚度，调整支撑组件的高度，直至支撑组件抵接于样品的背面，完成上样，本申请的制样夹具，结构简单，操作方便。
- 基于原位X射线分析的三轴实验装置、测试系统及其方法-202310722051.4
- 马玺;陈建业;张淼 - 中国地震局地质研究所
- 2023-06-16 - 2023-10-13 - G01N23/207
- 本发明涉及地质样品的测试设备技术领域，并提供一种基于原位X射线分析的三轴实验装置、测试系统及其方法，基于原位X射线分析的三轴实验装置包括容器本体和安装底座，所述容器本体包括上盖、外壳和三轴压力总成，三轴压力总成设置于外壳内，三轴压力总成的顶部设有安装位，测试系统的第一流体充入装置和第二流体充入装置分别与三轴压力总成连接；上盖设有狭缝；容器本体的上方设有扫描装置，扫描装置包括发射源和探测器；容器本体设置于安装底座上；本发明通过三轴实验装置与扫描装置X射线衍射仪配合联机使用，从而实时测定地质样品在三轴实验装置的三轴实验条件下的物理化学过程即晶体结构变化，满足对地质样品的研究需求。
- 一种Mg-Li双相合金EBSD样品的制备方法-202310869557.8
- 邓超;王淞;丁玉萍;刘施峰;洪睿 - 重庆大学
- 2023-07-14 - 2023-10-13 - G01N23/20008
- 本发明提供一种Mg‑Li双相合金EBSD样品的制备方法，结合氩离子束抛光技术对Mg‑Li双相合金材料表面的污染、划痕以及应变层进行去除，具体为第一步采用大电压、大电流和小角度进行粗抛光，第二步采用小电压、小电流和小角度进行精抛光，通过低角度抛光降低氩离子束作用深度、结合低温环境降低氩离子束抛光引起的温升，以此来减低样品表面损伤，从而获得Mg‑Li双相合金中β‑Li相的有效解析，综合解析率高达97％。
- 硬碳材料002晶面间距的测定方法-202310622189.7
- 刘陈飞;陈汇;胡淑婉;张峥 - 合肥国轩高科动力能源有限公司
- 2023-05-29 - 2023-10-13 - G01N23/20
- 本发明属于利用X射线检测物质技术领域，涉及硬碳材料002晶面间距的测定方法。针对现有技术中硬碳材料002晶面间距的测定标准不统一，硬碳材料002晶面间距测定不准确，检测数据重复性差，导致动力电池领域中碳硬材料的制备研究受阻的技术问题，本申请提供一种硬碳材料002晶面间距的测定方法，使用硅粉对X射线衍射仪2θ出峰角度进行校准，硅粉111晶面的出峰角度为28.442°，使用硬碳材料和硅粉的混合粉末进行检测，硬碳材料和硅粉的质量比为95∶5～99∶1，获得的衍射峰峰型完整，更有利于分析软件读取出硬碳的漫散射峰出峰角度，且通过标样的角度校准，得到硬碳材料的002晶面间距数据准确度高，重复性好，为指导动力电池选材的开发和应用提供了有利的保证。
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